Post RFQ
Profiler 3D ini menggunakan platform gerak motor linier presisi tinggi, memastikan gerakan yang akurat dan stabil di tiga sumbu XYZ, dan dapat melakukan pemindaian penuh permukaan benda kerja. Alat ini mendukung pengumpulan data awan titik 3D dan rekonstruksi model 3D, dan dapat menghasilkan gambar permukaan 3D yang intuitif dan laporan kontur. Perangkat lunak analisis permukaan 3D profesional bawaan dapat secara otomatis menghitung berbagai parameter permukaan 3D, seperti Sa, Sq, Sdr, dan lain-lain, dan mendukung ekspor data dalam beberapa format seperti STL, CSV dan PDF. Alat ini memiliki sistem peredam kejut bawaan yang dapat bekerja dengan stabil di lingkungan laboratorium yang kompleks, menghilangkan dampak getaran eksternal pada akurasi deteksi. Dibandingkan profiler kontur 3D sejenis, alat ini memiliki jangkauan pemindaian yang lebih besar dan resolusi yang lebih tinggi, memenuhi kebutuhan deteksi benda kerja kompleks dan presisi tinggi.

Dimensi keseluruhan: 800mm (panjang) × 600mm (lebar) × 500mm (tinggi); Berat bersih: 30kg; Jenis pengukuran: Pengukuran probe intan kontak 3D; Jangkauan pengukuran XYZ: Sumbu X 0~100mm, Sumbu Y 0~100mm, Sumbu Z 0~100μm; Resolusi vertikal: 0,5nm; Akurasi pengukuran: ±0,3% dari bacaan + 0,005μm; Kecepatan sampling: 5mm/s; Luas pemindaian: Maksimum 100mm×100mm; Layar: Layar sentuh IPS 10 inci; Jenis antarmuka: USB 3.0, Ethernet, WiFi 6; Sumber daya: AC100-240V 50/60Hz + baterai litium isi ulang 7,4V 8000mAh bawaan; Standar yang sesuai: ISO 4287, ISO 25178, ASTM E1152; Lingkungan kerja: Suhu 18~28℃, kelembapan 30%~60% RH non-kondensasi

Profiler kontur kekasaran 3D ini terutama digunakan di lembaga penelitian ilmiah kelas tinggi, manufaktur komponen aerospace, pemrosesan komponen optik, produksi implan medis, pengemasan semikonduktor dan bidang lainnya. Alat ini dapat melakukan deteksi kondisi permukaan benda kerja kompleks secara komprehensif dan akurat, memberikan dukungan data kunci untuk penelitian dan pengembangan produk, optimasi proses dan kontrol kualitas. Alat ini juga dapat digunakan untuk penelitian akademis di bidang ilmu permukaan, ilmu material dan bidang lainnya, membantu peneliti melakukan analisis mendalam tentang karakteristik permukaan material.