Post RFQ
Perangkat ini menggunakan chip deteksi arus eddy presisi tinggi dan teknologi pemrosesan sinyal banyak saluran, yang dapat mengidentifikasi cacat halus sebesar 0,05mm. Dibandingkan peralatan meja biasa, rentang frekuensi diperluas hingga 1Hz~20MHz, menyesuaikan kebutuhan pengujian hampir semua material logam. Perangkat ini dilengkapi layar definisi tinggi 1080P berukuran 21,5 inci, yang mendukung tampilan sinkron multi-jendela dari gelombang deteksi, posisi cacat dan hasil analisis data, dan dapat menyesuaikan parameter deteksi secara manual untuk mengoptimalkan efek deteksi. Perangkat ini mendukung koneksi eksternal beberapa jenis probe, termasuk probe array dan probe diferensial, yang dapat mendeteksi beberapa area sekaligus, meningkatkan efisiensi deteksi batch secara signifikan. Perangkat ini memiliki perangkat lunak analisis cacat profesional bawaan, yang dapat secara otomatis menghasilkan laporan deteksi terperinci, dan dapat terhubung ke sistem manajemen laboratorium melalui antarmuka Ethernet untuk mewujudkan manajemen data terpadu. Perangkat ini juga memiliki desain pelindung elektromagnetik, yang dapat beroperasi dengan stabil di lingkungan elektromagnetik kompleks dan menghindari gangguan luar yang mempengaruhi akurasi deteksi.

Ukuran keseluruhan perangkat adalah 450mm*320mm*180mm, dan menggunakan catu daya tegangan lebar AC 100-240V, menyesuaikan standar daya di seluruh dunia. Perangkat ini dilengkapi antarmuka probe array, yang dapat menghubungkan 4 probe deteksi sekaligus untuk mewujudkan deteksi sinkron multi-area. Perangkat ini mendukung penyesuaian frekuensi lebar dari 1Hz hingga 20MHz, dan dapat menyesuaikan parameter deteksi sesuai material dan ketebalan benda kerja untuk mengidentifikasi secara akurat berbagai jenis cacat. Perangkat ini dilengkapi beberapa antarmuka data USB 3.0, Ethernet dan RS232, yang dapat mengekspor data deteksi dengan cepat dan terhubung ke perangkat luar. Cangkang perangkat ini terbuat dari pelat baja dingin dengan proses pelapisan cat, dengan performa pembuangan panas dan kemampuan anti-gangguan yang baik. Perangkat ini memiliki kipas pendingin bawaan untuk memastikan operasi stabil dalam jangka waktu lama, dan mendukung pemasangan dinding untuk menghemat ruang laboratorium.

Perangkat ini terutama berlaku untuk deteksi cacat wafer dan kerangka pemimpin di industri semikonduktor, deteksi cacat sambungan solder dan pin pada komponen elektronik presisi, deteksi bagian paduan presisi di bidang penerbangan antariksa, kontrol kualitas bagian logam pada peralatan medis, dan analisis performa material oleh lembaga penelitian ilmiah. Perangkat ini dapat menyelesaikan pekerjaan deteksi presisi tinggi dan frekuensi tinggi di lingkungan laboratorium, memenuhi standar kualitas yang ketat, dan membantu meningkatkan tingkat kelulusan produk perusahaan dan mengurangi biaya purna jual.