Keuntungan inti dari sensor ini adalah resolusi level nanometer 0,1nm dan Akurasi ± 0.002mm, memungkinkan deteksi perubahan perpindahan yang sangat kecil dalam aplikasi semikonduktor dan optik presisi. Prinsip pengukuran non-kontak menghilangkan kerusakan benda kerja dan gangguan pengukuran, yang penting untuk komponen bernilai tinggi seperti wafer dan lensa optik. Perisai anti interferensi elektromagnetik bawaan (EMI) mengurangi kebisingan sinyal dalam lingkungan industri, memastikan output data yang stabil. Dengan frekuensi respons 1MHz, ia menangkap perubahan perpindahan mikro yang cepat secara Waktu Nyata, cocok untuk skenario pengujian dinamis. 304 perumahan baja tahan karat dan kelas perlindungan IP64 tahan debu dan percikan air, dan sumber daya tegangan rendah DC 5V memastikan operasi yang aman dalam ruang bersih. Mendukung output analog 0-5v dan RS232 digital, menyediakan opsi transmisi data yang fleksibel untuk sistem pengujian yang berbeda.
Sensor pergeseran kapasitif resolusi mikro ini menawarkan rentang pengukuran 0-10mm, dengan rentang opsional 0-1mm dan 0-5mm untuk pengujian perpindahan ultra-kecil. Ini mencapai akurasi ± 0.002mm dan resolusi 0,1nm, memenuhi persyaratan ketat pengukuran tingkat nanometer. Frekuensi respons mencapai 1MHz, memungkinkan penangkapan real time dari perubahan perpindahan mikro yang cepat. Didukung oleh DC 5V, beroperasi dalam rentang suhu 0 °C hingga 50 °C, cocok untuk lingkungan ruang bersih. Sensor ini menggunakan teknologi penginderaan kapasitif pelat paralel, dengan sinyal output termasuk 0-5v analog dan RS232 digital untuk akuisisi data presisi tinggi. Perumahan terbuat dari baja tahan karat 304, dengan kelas perlindungan IP64 untuk tahan debu dan percikan cahaya. Dimensi keseluruhan adalah 50 × 30 × 20mm, dan berat 0.3kg, sehingga mudah untuk diintegrasikan ke dalam peralatan presisi kompak.
Sensor pergeseran kapasitif ini banyak digunakan pada bidang penelitian ilmiah dan teknologi tinggi. Dalam manufaktur semikonduktor, menempatkan wafer selama proses litografi dan mendeteksi serpihan permukaan CIP untuk menjamin ketepatan produksi. Dalam optik presisi, ini menyesuaikan panjang fokus lensa kelas atas dan mengukur perubahan komponen optik. Dalam penelitian ilmiah laboratorium, mendukung pengujian properti mekanik bahan mikro, klasifikasi kinerja perangkat MEMS, dan pemosisian tambahan mikroskop kekuatan atom. Juga diterapkan dalam peralatan medis presisi, seperti lengan robot bedah pemosisian mikro dan kalibrasi komponen perangkat pencitraan medis. Semua skenario ini membutuhkan pengukuran penggantian mikro presisi ultra-tinggi, dan sensor ini menyediakan data bebas gangguan yang stabil untuk mendukung inovasi teknologi dan peningkatan kualitas produk.
Post RFQ
Chat
Semua Kategori